ホワイトボックステスト
White Box Test
ほわいとぼっくすてすと
プログラムの内部構造(ソースコード)に基づいてテストケースを設計するテスト手法。命令網羅、分岐網羅、条件網羅、パス網羅などのカバレッジ基準を用いる。組込みソフトウェアの単体テストで広く使用される。
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他の資格での定義
プログラムの内部構造(ロジック、分岐、ループなど)に着目して行うテスト。命令網羅、分岐網羅などのカバレッジ基準を用い、すべての処理経路が正しく動作するか検証する。単体テストで主に用いられる。
プログラムの内部構造(ロジック)に着目してテストデータを作成するテスト手法。命令網羅、判定条件網羅(分岐網羅)、条件網羅、複数条件網羅などのカバレッジ基準がある。
プログラムの内部構造に着目したテスト手法。命令網羅、分岐網羅(判定条件網羅)、条件網羅、複数条件網羅、経路組合せ網羅などの網羅基準がある。網羅率(カバレッジ)でテストの十分性を評価する。
プログラムの内部構造(制御フロー、データフロー)に基づいてテストケースを設計する手法。命令網羅、分岐網羅、条件網羅、パス網羅などのカバレッジ基準がある。ロジックの正確性を検証する。
プログラムの内部構造(制御の流れや条件分岐)に着目してテストケースを設計するテスト技法。命令網羅や判定条件網羅などの網羅基準を用い、主に単体テストで使う。仕様にあるのに実装されていない機能の漏れは見つけにくい。
Past Exams
過去問での出題
過去問で 19 回出題(ITパスポート試験 10・基本情報技術者試験 4・応用情報技術者試験 3・情報セキュリティマネジメント試験 1・エンベデッドシステムスペシャリスト試験 1)。うち 2 回は用語そのものを問う問題です。
- 令和8年度 情報セキュリティマネジメント試験 公開問題 問5用語を問う問題(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成30年度 秋期 ITパスポート試験 問44正解の選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成30年度 春期 エンベデッドシステムスペシャリスト試験 午前Ⅱ 問22(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成29年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問18(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成27年度 春期 基本情報技術者試験 午前 問50(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成26年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問48選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成26年度 秋期 ITパスポート試験 問44選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成26年度 春期 ITパスポート試験 問34正解の選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成25年度 春期 基本情報技術者試験 午前 問22(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成25年度 春期 ITパスポート試験 問32選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
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- 平成25年度 春期 ITパスポート試験 問37(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成24年度 秋期 ITパスポート試験 問45(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成24年度 秋期 ITパスポート試験 問46正解の選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成23年度 秋期 基本情報技術者試験 午前 問47選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成23年度 秋期 ITパスポート試験 問44選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成23年度 基本情報技術者試験 特別試験 午前 問49用語を問う問題(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成22年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問46(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成22年度 春期 ITパスポート試験 問34選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成21年度 春期 ITパスポート試験 問42選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
出典: 独立行政法人情報処理推進機構(IPA)の過去問題。問題文は IPA のサイトの PDF で確認できます。「用語を問う問題」は、この用語の説明や特徴そのものを問う問題です。「選択肢」は、問題文ではなく選択肢に出たものです。用語名で照合しているため、関係の薄い問題が含まれることがあります。
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開発工程(要件定義、基本設計、詳細設計、実装)と対応するテスト工程(単体テスト、結合テスト、システムテスト、受入テスト)をV字型に対応付けた開発モデル。各開発工程の成果物がテスト工程の検証基準となり、品質確保に有効。組込み開発で広く採用される。
システムの品質や制約に関する要件。性能(応答時間、スループット)、信頼性、安全性、消費電力、耐環境性、コスト制約などが含まれる。組込みシステムでは非機能要件がシステム設計を大きく左右する。
定められた時間制約内に処理を完了する能力。ハードリアルタイムでは時間制約の違反が許されず(例:自動車のエアバッグ制御)、ソフトリアルタイムでは一定の遅延が許容される(例:動画再生)。組込みシステムの最も重要な品質特性の一つ。
IEEE 1149.1で規定されたテスト・デバッグ用のインタフェース規格。TCK、TMS、TDI、TDOの4信号(+TRST)で構成されるシリアルインタフェースにより、チップ内部のレジスタアクセスやバウンダリスキャンテストが可能。組込みデバッグの標準インタフェース。
プログラムの仕様に基づき、内部構造を考慮せずにテストケースを設計するテスト手法。同値分割、境界値分析、デシジョンテーブルなどの技法がある。システムテストや受入テストで使用される。
テストによってプログラムのどの部分が実行されたかを測定する分析手法。ステートメントカバレッジ(C0)、ブランチカバレッジ(C1)、条件カバレッジ(C2)、MC/DC(修正条件判定カバレッジ)などの基準がある。安全規格ではMC/DCが求められることがある。
