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過去問での出題
過去問で 9 回出題(応用情報技術者試験 9)。うち 2 回は用語そのものを問う問題です。
- 令和5年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問10(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 令和4年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問9用語を問う問題(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 令和3年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問12(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成29年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問10用語を問う問題(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成26年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問9(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成25年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問12(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成24年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問11(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成24年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問13選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
- 平成21年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問13選択肢(IPA の PDF を新しいタブで開きます)
出典: 独立行政法人情報処理推進機構(IPA)の過去問題。問題文は IPA のサイトの PDF で確認できます。「用語を問う問題」は、この用語の説明や特徴そのものを問う問題です。「選択肢」は、問題文ではなく選択肢に出たものです。用語名で照合しているため、関係の薄い問題が含まれることがあります。
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キャッシュにのみ書込みを行い、キャッシュラインが追い出される際に主記憶に書き戻す方式。書込み速度が高速だが、キャッシュと主記憶の不一致が生じるため、ダーティビットで管理する。マルチプロセッサではキャッシュコヒーレンシが課題。
キャッシュに書き込むと同時に、主記憶やディスクにも必ず書き込む方式。内容が常に一致するため障害時にデータを失いにくいが、書込みのたびに低速な側へのアクセスが発生し性能は落ちる。
任意のアドレスに対して同じ速度で読み書きできる揮発性メモリ。DRAM(コンデンサに電荷を蓄積、要リフレッシュ、主記憶に使用)とSRAM(フリップフロップで記憶、高速だが高コスト、キャッシュメモリに使用)がある。
読み出し専用の不揮発性メモリ。マスクROM(工場で書込み)、PROM(1回だけ書込み可能)、EPROM(紫外線で消去可能)、EEPROM(電気的に消去可能)がある。ファームウェアやBIOSの格納に使用される。
電気的に一括消去・書込みが可能な不揮発性半導体メモリ。NAND型(大容量・低コスト、SSDやUSBメモリに使用)とNOR型(高速読出し、ファームウェア用)がある。書換え回数に上限があり、ウェアレベリングで寿命を延長する。
CPUと主記憶の速度差を埋めるための高速小容量メモリ。参照の局所性(時間的・空間的局所性)を利用してアクセス頻度の高いデータを保持する。L1、L2、L3の階層構造を持ち、ヒット率が性能を大きく左右する。
